太赫兹探针台 非接触式 50GHz-2THz S参数测量TERAPROBES
|
商品描述
|
|
|
产品对比
|
|
类型
|
非接触式
|
传统接触式
|
|
成本
|
低
|
高
|
|
测试速度
|
快
|
慢
|
|
自动化流水线测试
|
有
|
无
|
|
损坏芯片可能性
|
无
|
高
|
|
损坏探针可能性
|
无
|
高
|
|
加载偏压芯片测试功能
|
有
|
有
|
|
动态范围
|
较低
|
较高
|
|
产品价格：
|
|
|
产品特点
|
|
产品特点
|
|
太赫兹频段片上测试，4S参数测量
|
非接触式，无磨损
|
|
亚微米级校准
|
通用平台
|
|
和VDI,FARRAN,OML等矢网扩展模块兼容
|
可根据收发芯片特性定制解决方案
|
|
|
技术参数
|
|
技术参数
|
|
工作频率: 50 GHz – 2 THz(由矢网最高工作频率决定) 测量重复度
|
相位偏差(degrees) 0.6053 (@ 600 GHz)
|
|
强度偏差0.74 % (@ 600 GHz)550px
|
动态范围>80 dBi
|
