TeraVIEW国产太赫兹近场/远场一体化时域光谱系统（THz TDS）
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商品描述
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多功能太赫兹近场/远场一体化成像太赫兹时域光谱系统为 “远场透射/反射 + 近场透射” 一体化成谱成像，采用 “共用发射天线 + 分置接收模块 + 多通道激光适配 + 旋转电机切切换” 设计，实现远场与近场模式的一键切换，兼顾远场大范围检测与近场高分辨率分析，适用于材料微观缺陷检测、生物组织精细表征、半导体器件分析等场景。
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产品特色
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产品特色
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远场发射+远场探测：透射 / 反射双模式太赫兹成谱与成像，覆盖较大检测范围
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远场发射+近场探测：高空间分辨率透射成谱与成像，聚焦微观区域检测
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硬件共用：远场 / 近场共用 1 套光电导发射天线，降低硬件冗余
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便捷切换：通过电动双轴转盘 + 自动化控制，实现远场 / 近场模式一键切换，切换时间≤10s
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激光适配：3 通道激光器，分别为远场收发（1560nm）、近场探针（780nm）提供光源
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产品价格：RMB900,000.00 起
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规格参数
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指标类别
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远场模式（透射 / 反射）
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近场模式（透射）
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光谱范围
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0.1-4.5THz（透射）
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0.1-2.5THz
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动态范围
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85dB
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55dB
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光谱分辨率
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≤5GHz（实测）
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≤5GHz（实测）
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成像分辨率
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≤350μm
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25μm
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单次检测时间
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成谱：≤1s；
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成像（10mm×10mm）：≤10min
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成谱：≤1s；
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成像（100μm×100μm）：≤2min
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延迟范围
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0-266ps
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扫描速度
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5Hz@266ps，10Hz@80ps
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模式切换时间
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≤10s（自动化）
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扫描范围
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50mm*50mm
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系统附件
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除湿模块：便携式无油空气干燥机
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AI图谱分析边缘计算机
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软件界面
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实测案例
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